Leica Microsystems
Leica Microsystems
EM TXP Kesit Alma ve Hedef Hazırlama Cihazı
EM TXP Kesit Alma ve Hedef Hazırlama Cihazı SEM, TEM ve LM incelemeleri öncesinde numunelerinizin frezelenmesi, testere ile kesilmesi, taşlanması ve parlatılması işlemlerini tek bir cihazda toplayan kusursuz bir mekanik hedef hazırlama platformudur. Üzerindeki entegre stereomikroskop sayesinde, numune üzerindeki zar zor görülebilen mikroskobik hedefleri olağanüstü bir doğrulukla hizalamanızı ve doğrudan izleyerek işlemenizi sağlar.












